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              熒光光譜儀技術規格說明書 光譜分析儀

              型 號

              產品時間2025-04-23

              所屬分類熒光光譜儀

              報價

              產品描述:熒光光譜儀技術規格說明書是由湖北高天提供,改設備能量色散X熒光光譜儀,簡稱XRF,是一種物理的元素分析方法,具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢,在子、器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。
              產品概述

                  熒光光譜儀技術規格說明書是由湖北高天提供,改設備能量色散X熒光光譜儀,簡稱XRF,是一種物理的元素分析方法,具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢,在子、器、珠寶、玩具、服裝、皮革、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等行業廣泛應用。

              GT-XRF-W7 熒光光譜儀技術規格說明書

               

              1.  

              儀器測試范圍:

              從硫S-鈾U之間的元素(包含RoHS和重金屬元素 )

              RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br   + 鹵素Cl和Br

              合金:銅材,鐵合金,鎳合金,錫合金,鈦合金,貴金屬

              鍍層:Ag/Sn/Au/Ni—Cu,Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe

              2.

              樣品種類:

              固體、液體、粉末;

              3.

              ?????低檢出限:

              RoHS:Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm

              成分分析:0.01%--99.99%

              4.

              測試時間:

              60s-200s(軟件自動調整)

              5.

              工作環境溫度:

              溫度 :15-30℃  ;濕度:≤75% (不結露)

              6.

              輸入源:

              AC 220V±15%,50Hz

              7.

              高壓保護措施

              過壓自保護,自恢復

              8.

              儀器尺寸:

              650mm*450mm*350mm

              9.

              測試樣品腔尺寸:

              280mm*280mm*200mm

              10.

              輻射防護標準:

              遠高于國標GB18871-2002 GBZ115-2002標準

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